是件產(chǎn)品都會(huì)存在好與壞，MOS管也是例外，超致MOS管是金屬—氧化物-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管，如何去甄別它的好壞呢，接下來看看超致MOS管：如何測(cè)試MOS管產(chǎn)品的好壞。

　　一、mos管的好壞怎么測(cè)試？

　　測(cè)試的目的是為了保護(hù)電路板上的其他部件，將mos對(duì)于管道連接到電路之前的測(cè)試至關(guān)重要。mos主要有三個(gè)引腳：漏極、源極和柵極。

　　使用故障時(shí)mos在管道過程中，會(huì)發(fā)生短路，對(duì)電路有害。

　　這種短路的結(jié)果可能是漏極電壓反饋，也會(huì)影響柵極端子。到達(dá)終端后，電壓通過柵極電阻進(jìn)一步傳輸?shù)津?qū)動(dòng)電路，可能會(huì)進(jìn)一步損壞驅(qū)動(dòng)電路。

　　所以在使用mos測(cè)試管道前的好壞可以避免損壞整個(gè)電路。

　　二、超致MOS管道測(cè)量時(shí)應(yīng)注意的點(diǎn)

　　測(cè)試 mos的時(shí)候需要采取一些預(yù)防措施，主要是：

　　1、需要確保輸入電源大于或者等于mos管道閾值電壓。

　　2、mos管道泄漏電壓和柵極電壓不得超過擊穿電壓。

　　3、應(yīng)選擇適當(dāng)?shù)南蘖麟娮?LED 供電。

　　4、格柵極源電阻應(yīng)始終用于連接中。這將有助于避免格柵極處的噪音和設(shè)備寄生電容器的放電。

　　5、應(yīng)該存在mos管柵極處使用低范圍電阻。

　　6、在測(cè)試電路技術(shù)時(shí)，確保使用低側(cè)開關(guān)電路。mos管將不能工作。

　　三、mos測(cè)量管道質(zhì)量的方法

　　1、用萬用表測(cè)量mos管好壞

　　二極管測(cè)試

　　電阻測(cè)試

　　連續(xù)性測(cè)試-使用萬用表蜂鳴器測(cè)試

　　2、組裝電路進(jìn)行測(cè)試mos管的好壞

　　用萬用表測(cè)mos管道質(zhì)量-二極管試驗(yàn)

　　二極管測(cè)試很簡單，只需要一個(gè)帶二極管模式的萬用表。

　　mos管道有內(nèi)體二極管。因此，在NMOS在這種情況下，陽極位于源極，陰極位于漏極。

　　通過二極管測(cè)試進(jìn)行測(cè)試mos管道質(zhì)量的一些關(guān)鍵步驟：

　　1、確保萬用表處于二極管模式

　　2、對(duì)于 NMOS 測(cè)試，連接萬用表的紅色探頭mos管源極，將黑色探頭連接到源極。在這方面，體內(nèi)二極管處于正偏置模式。在這種模式下，應(yīng)顯示萬用表 0.4 V 至 0.9 V 讀數(shù)之間。如果萬用表顯示讀數(shù)為零或無讀數(shù)，則該讀數(shù)mos管有故障。

　　3、逆轉(zhuǎn)探頭連接時(shí)，讀數(shù)應(yīng)為開路或無讀數(shù)，表示讀數(shù)為開路mos管良好。因?yàn)槎O管現(xiàn)在處于反向偏置狀態(tài)，如果萬用表指示任何讀數(shù)不為零，則設(shè)備有故障。

　　四、用萬用表測(cè)量超致MOS管道質(zhì)量-電阻測(cè)試

　　當(dāng) mos當(dāng)管道的格柵極端不觸發(fā)脈沖時(shí)，其泄漏電阻非常高。該屬性用于電阻測(cè)試mos管道是否有故障。測(cè)試也很簡單，只需要?dú)W姆表或萬用表。

　　無論數(shù)字萬用表探頭的極性如何，進(jìn)行電阻檢查都是好的mos漏源之間應(yīng)有高電阻。

　　以下是電阻測(cè)試的一些基本步驟：

　　1、功能好mos管道應(yīng)指示與歐姆表探頭連接無關(guān)的高泄漏電阻。

　　2、萬用表也可用于檢查泄漏電阻。將萬用表放置在電阻模式下啟動(dòng)測(cè)試。萬用表電阻的讀數(shù)應(yīng)該很高，以至于讀數(shù)應(yīng)該是兆歐。

　　3、從萬用表中獲得的讀數(shù)和mos比較管道的數(shù)據(jù)表。如果發(fā)現(xiàn)電阻讀數(shù)值小于數(shù)據(jù)表上的值或?yàn)榱?，則表示有故障。儀表或歐姆表應(yīng)顯示數(shù)據(jù)表上的電阻。

　　在你測(cè)量mos管時(shí)要考慮端子到端子的電阻，因?yàn)樗鼈儠?huì)影響讀數(shù)。例如，在電路中，當(dāng)你測(cè)量柵極到源極的電阻時(shí)，你讀取的不是高電阻，而是 R1 的值，即 10k。移除 10k 電阻會(huì)增加讀數(shù)。

　　綜合上述內(nèi)容，超致MOS管在測(cè)試的時(shí)候，還是需要通過幾個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行，才能測(cè)試超致MOS管是否存在好壞。